英集芯申请芯片FT测试中的开尔文测试方法专利，提高芯片测试效率 国家知识产权局信息显示，深圳英集芯科技股份有限公司申请一项名为“一种芯片FT测试中的开尔文测试方法”的专利，公开号CN 119310331 A，申请日期为2024年9月。 开尔文 芯片ft 开尔文测试 2025-01-18 08:32 3
