广东晶锐半导体申请新型检验治具及检验方法专利,实现对于待测元器件更全面的测试 国家知识产权局信息显示,广东晶锐半导体有限公司申请一项名为“一种新型检验治具及检验方法”的专利,公开号CN 119644023 A,申请日期为2025年2月。 治具 晶锐 广东晶锐 晶锐半导体 检验治具 2025-03-21 13:21 5