在集成电路设计领域，芯片制程精度已突破3纳米节点，晶圆检测参数呈指数级增长。传统实验室管理面对海量数据易出错、设备利用率不足50%、人员操作合规性难以追溯等痛点。某头部芯片厂商曾因实验室数据泄露导致流片失败，直接损失超千万元，折射出行业对质检系统安全性与智能化

集成电路 lims lims系统 质检lims lims赋能 2025-04-10 11:08  5