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FIB-ToF-SIMS集成技术能为APT分析做什么?

原子探针断层扫描(Atom Probe Tomography,APT)能够提供具有亚纳米分辨率的三维成分信息。APT尤其适合对传统分析方法难以捕捉的微观特征进行定量成分分析,包括晶界、界面、晶体缺陷、纳米团簇或沉淀物、亚微米颗粒以及矿物中的元素成分微观变化区域

橄榄石 apt fib eds ebsd 2025-04-11 09:49  6