摘要：金融界 2024 年 12 月 16 日消息，国家知识产权局信息显示，济南智多晶微电子有限公司取得一项名为“一种基于 ATE 的芯片测试装置”的专利，授权公告号 CN 222145165 U，申请日期为 2024 年 3 月。

金融界 2024 年 12 月 16 日消息，国家知识产权局信息显示，济南智多晶微电子有限公司取得一项名为“一种基于 ATE 的芯片测试装置”的专利，授权公告号 CN 222145165 U，申请日期为 2024 年 3 月。

专利摘要显示，本实用新型公开了一种基于 ATE 的芯片测试装置，包括：第一测试模块、RF 开关、差分时钟电路模块和第二测试模块；差分时钟电路模块用于在第二测试模块对待测试芯片进行 Serdes Trim 测试时产生第一差分时钟信号；第二测试模块用于根据第一差分时钟信号对待测试芯片进行 Serdes Trim 测试；第一测试模块和第二测试模块用于对待测试芯片进行第一类测试。根据本实用新型提供的装置，通过在装置中设置差分时钟电路模块，由差分时钟电路模块来产生差分时钟信号，使得本实用新型能够采用中低端的 ATE 测试机对芯片进行测试，从而能够在同一个板块上完成芯片的所有测试项目，简化对芯片的测试流程，并降低测试成本。

来源：金融界