摘要：在半导体、光伏、先进材料研发与生产领域，对导电材料电阻率及微小缺陷的精准、高效测量，是确保产品质量和性能的关键环节。传统测量设备常面临两大挑战：难以兼顾超大尺寸样品的兼容性与微小电阻缺陷的高精度定位。

在半导体、光伏、先进材料研发与生产领域，对导电材料电阻率及微小缺陷的精准、高效测量，是确保产品质量和性能的关键环节。传统测量设备常面临两大挑战：难以兼顾超大尺寸样品的兼容性与微小电阻缺陷的高精度定位。

飞时科技为您带来革命性的解决方案—— Map 2530 电阻率及缺陷分布测量系统！

Map 2530 核心参数

样品尺寸兼容: 10 x 10 mm² — 303 x 303mm² (0.5 — 12 inch)

适用样品：导电型晶锭/wafer/籽晶，或其他块体

电阻率范围：0.1 – 1000 mOhm·cm （可提供更低或更高的）

测量空间精度：1 / 2.5 / 5 / 10 / 25 mm

开放测试，欢迎来试！

飞时科技现正式开放 Map 2530 的 试样通道！无论您是研发工程师、产线负责人还是质量管控专家，都欢迎您带上您的实际样品，亲身体验 Map 2530 在大尺寸兼容性、微小缺陷检测精度以及宽电阻率范围测量上的卓越表现！

样品测试要求请致电详询：010-58237159

关于飞时科技

飞时科技（北京）有限公司

Phase Technologies(Beijing) Co., Ltd，

深耕材料研究、生产、检测，光电学微弱信号测量等应用领域， 致力于为科学研究院所、大学、企业等提供电阻测量设备和传感器、微弱信号测量等解决方案。

为国内外金属材料， 光伏、 化合物导体和半导体材料研发、 生产、 质控、 量测，以及装备制造商提供全系列非接触电阻率无损测量技术方案。

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来源：宽禁带联盟