摘要：无透镜片上显微技术是一种先进的无标记计算显微成像技术，因其结构紧凑与高通量成像能力而成为计算成像领域的研究热点。然而在实际实验中，传感器移动轨迹与物平面法线之间不可避免地存在偏差。且由于所拍摄全息图相位信息缺失，其重聚焦特征不再可靠，因此全息图之间错位的精确校

无透镜片上显微技术是一种先进的无标记计算显微成像技术，因其结构紧凑与高通量成像能力而成为计算成像领域的研究热点。然而在实际实验中，传感器移动轨迹与物平面法线之间不可避免地存在偏差。且由于所拍摄全息图相位信息缺失，其重聚焦特征不再可靠，因此全息图之间错位的精确校准极具挑战性。这些误差在相位恢复过程中会累积并放大，从而限制了成像分辨率与细节保真度。

针对上述问题，该研究将重建中间结果作为参考，在迭代过程中动态补偿区段相关的横向失配，从而实现更有效的全局误差抑制。该研究避免了配准预处理过程，简化整体重建流程。此外，该研究将复约束引入相位恢复过程中，显著增强误差抑制稳健性与物理重建机制可靠性。实验装置与算法流程如图1所示。

未染色慢性胃溃疡切片的实验重建结果如图2所示。该研究仅采用5帧全息图作为输入。在不同类型样本上的实验结果表明，该研究可在28.6 mm2全视场范围内实现超出奈奎斯特采样极限1.78倍空间分辨率的定量振幅与相位成像，最小可分辨尺寸达到775 nm。该研究在解析复杂结构细节方面表现出卓越性能，为高保真无透镜成像提供了有效解决方案。以上研究成果以“Pixel-super-resolved lensless on-chip microscopy via precision-enhanced dynamic registration and complex-constrained phase retrieval”为题发表在Applied Physics Letters上。该论文的第一作者为哈尔滨工业大学物理学院博士研究生李子杨，通信作者为哈尔滨工业大学物理学院刘正君教授。

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来源：凯视迈精密测量