信利半导体取得抗腐蚀银浆电路PAD结构专利,防止银浆腐蚀邻近金属地走线

360影视 2024-12-25 13:00 3

摘要:国家知识产权局信息显示,信利半导体有限公司取得一项名为“一种用于TFT模组的抗腐蚀的银浆电路PAD结构”的专利,授权公告号CN 222192634 U,申请日期为2024年2月。

金融界2024年12月25日消息,国家知识产权局信息显示,信利半导体有限公司取得一项名为“一种用于TFT模组的抗腐蚀的银浆电路PAD结构”的专利,授权公告号CN 222192634 U,申请日期为2024年2月。

专利摘要显示,本实用新型公开了一种用于TFT模组的抗腐蚀的银浆电路PAD结构,包含彩膜基板和阵列基板,所述的彩膜基板的表面设有防静电膜,所述的阵列基板的边缘设有银浆PAD 和金属地走线,所述的银浆PAD与所述的金属地走形成电连接,所述的银浆PAD上设有定位标记,所述的银浆PAD上设有银浆。在银浆进行点胶时,将银浆滴头对准十字形的定位标记,银浆在重力的作用下在银浆PAD区中蔓延,由于银浆PAD区的限制,利用银浆的右侧边缘与金属地走线之间的隔离距离D,银浆不会蔓延到金属地走线上,彻底防止银浆腐蚀邻近的金属地走线,防止金属地走线失效。同时,由于银浆PAD为ITO图案层,其阻抗要比金属地走线的阻抗值高出两个量级,避免银浆离子化而产生的腐蚀问题。

来源:金融界

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