上海朔集半导体申请 SAR ADC采样电路等专利,保证采样精度

360影视 2024-12-26 18:20 3

摘要:国家知识产权局信息显示,上海朔集半导体科技有限公司申请一项名为“SAR ADC采样电路、ADC电路及装置”的专利,公开号 CN 119182408 A,申请日期为 2024年11月。

金融界2024年12月26日消息,国家知识产权局信息显示,上海朔集半导体科技有限公司申请一项名为“SAR ADC采样电路、ADC电路及装置”的专利,公开号 CN 119182408 A,申请日期为 2024年11月。

专利摘要显示,本发明公开 了一种SAR ADC采样电 路,该电路包括:前端驱 动模块,用于对输入信 号进行缓冲放大,输出 放大信号;采样电容阵 列,用于进行信号采样 及量化转换;控制模块, 用于在采样周期开始后 控制输入驱动模块输出 的放大信号对采样电容阵列的采样电容预充电,延迟设定时间 后控制采样电容阵列对输入信号进行采样。利用本发明方案, 可以使采样电容阵列采用更大的单位电容,并保证采样精度。

来源:金融界

相关推荐