联恒星科技申请电阻层析成像传感器现场标定方法及系统专利,有效减少现场环境对测量准确性的影响

360影视 2025-01-15 14:11 1

摘要:国家知识产权局信息显示,深圳市联恒星科技有限公司申请一项名为“一种电阻层析成像传感器现场标定方法及系统”的专利,公开号 CN 119290975 A,申请日期为2024年10月。

金融界2025年1月15日消息,国家知识产权局信息显示,深圳市联恒星科技有限公司申请一项名为“一种电阻层析成像传感器现场标定方法及系统”的专利,公开号 CN 119290975 A,申请日期为2024年10月。

专利摘要显示,本申请公开一种电阻层析成像传感器现场标定方法及系统。所述方法分为三大步骤:在实验室条件下,通过控制流体温度并同步测量其电导率及ERT传感器的电压响应,建立电压测量值与电导率之间的映射函数模型;利用现场待测流体的一个标定电压及其电导率作为基准,对实验室建立的映射函数模型进行迁移,以适应现场实际条件;利用迁移后的模型进行电导率的实时测量和标定电压的计算。通过实验室条件下的详细标定和现场标定点的引入,该方法能够有效减少现场环境对ERT传感器测量准确性的影响,确保测量结果的准确性。该方法能够灵活应对不同现场环境的变化,无需频繁重新标定,降低了维护成本和操作复杂度。

天眼查资料显示,深圳市联恒星科技有限公司,成立于2014年,位于深圳市,是一家以从事研究和试验发展为主的企业。企业注册资本1301.8844万人民币,实缴资本1152.6758万人民币。通过天眼查大数据分析,深圳市联恒星科技有限公司共对外投资了2家企业,参与招投标项目5次,知识产权方面有商标信息9条,专利信息56条,此外企业还拥有行政许可9个。

来源:金融界

相关推荐