上海积塔半导体申请基于沟槽栅的IGBT器件及其制备方法专利,减小IGBT晶圆内饱和压降Vcesat值离散性 国家知识产权局信息显示,上海积塔半导体有限公司申请一项名为“基于沟槽栅的IGBT器件及其制备方法”的专利,公开号CN 119132950 A,申请日期为2024年9月。 沟槽 igbt vcesat 2024-12-19 11:22 5