合肥市华宇半导体取得 ADC 芯片测试方法及抗干扰测试设备专利
金融界 2025 年 1 月 4 日消息，国家知识产权局信息显示，合肥市华宇半导体有限公司取得一项名为“一种 ADC 芯片测试方法及抗干扰测试设备”的专利，授权公告号 CN 118740153 B，申请日期为 2024 年 9 月。
合肥市华宇
金融界 2025 年 1 月 4 日消息，国家知识产权局信息显示，合肥市华宇半导体有限公司取得一项名为“一种 ADC 芯片测试方法及抗干扰测试设备”的专利，授权公告号 CN 118740153 B，申请日期为 2024 年 9 月。