集成电路的失效分析技术研究
随着科学技术的发展 , 集成电路在电子设备中的应用越来越广泛。IC 的可靠性也逐渐成为制约产品质量的关键因素之一 ,IC的失效分析工作越来越受到重视。本文主要对集成电路失效分析的过程、方法、技术、发展等方面进行了详细的分析和阐述 , 对提高集成电路可靠性起到了
静电放电
详解电子产品的可靠性试验
可靠性试验是一种通过模拟产品在实际使用过程中可能遇到的各种环境条件和应力因素，来评估电子产品在出厂到使用寿命结束期间质量情况的科学方法。它能够在短时间内正确评估产品的可靠性，主要目的是激发潜在失效模式，从而为产品的改进提供依据，并最终确定产品是否满足预先制定的
ESD(静电放电)基础知识与防护控制
就是物质表面电子不均衡分布引起的一种电荷，通常是由两种物体先接触后再分离而产生的。