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FIB-ToF-SIMS集成技术能为APT分析做什么?

原子探针断层扫描(Atom Probe Tomography,APT)能够提供具有亚纳米分辨率的三维成分信息。APT尤其适合对传统分析方法难以捕捉的微观特征进行定量成分分析,包括晶界、界面、晶体缺陷、纳米团簇或沉淀物、亚微米颗粒以及矿物中的元素成分微观变化区域

橄榄石 apt fib eds ebsd 2025-04-11 09:49  4

CSP-J/S冲奖第22天:时间复杂度

应粉丝要求出本期一、为什么需要时间复杂度?1.1 程序性能的度量问题:如何衡量不同算法的效率?// 示例1:求1+2+...+nintsum1(int n){ // 时间复杂度 O(n)int total = 0;for(int i=1; i

哈希表 total arr fib num 2025-04-02 20:33  7

聚焦离子束显微镜(FIB-SEM)的应用领域

聚焦离子束显微镜(FIB-SEM)作为一种前沿的微观分析与加工工具,将聚焦离子束(FIB)和扫描电子显微镜(SEM)技术深度融合,兼具高分辨率成像和精密微加工能力,广泛应用于材料科学、电子工业、生命科学及纳米技术等领域,成为现代科研与工业不可或缺的重要设备。

显微镜 fib sem 离子束 离子束显微镜 2025-04-01 17:40  5

聚焦离子束扫描电子显微镜(FIB-SEM)的用途

FIB-SEM系统通过聚焦离子束(FIB)和扫描电子显微镜(SEM)两种互补技术,实现了材料的高精度成像与加工。FIB技术利用电透镜将液态金属离子源产生的离子束加速并聚焦,作用于样品表面,可实现纳米级的铣削、沉积、注入和成像操作。这种技术能够对样品进行精确的微

fib 电子显微镜 离子束 扫描电子显微镜 离子束扫描 2025-03-12 11:15  7

FIB系统的结构及其实际应用

双束聚焦离子束显微镜的关键在于其双束技术,离子束(FIB)用于样品的精确切割和蚀刻,而电子束(SEM)则捕捉样品的高分辨率图像。SEM垂直安装,FIB则以一定角度倾斜安装,两者之间形成52°的夹角,这种设计使得SEM能够提供高达100万倍的放大倍数,有效弥补了

fib 离子束 fib系统 2024-12-30 14:35  14

【橙子老哥】C# RabbitMQ-RPC/发布确认/延迟队列(二)

GRPC,这rabbitmq怎么也和这玩意儿挂上关系了?其实我们把这个单词叫全,大家就清楚了(Remote Procedure Call),是一种计算机通信协议,允许程序在不同的地址空间(通常是不同的计算机)上执行代码有人疑惑了,在web程序里面,我们http

队列 async fib 2024-11-27 08:32  13