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天津普智芯申请基于ATE测试中ADC/DAC测试相关模拟源质量优化的电路设计专利，保证高精度低噪声的信号源

国家知识产权局信息显示，天津普智芯网络测控技术有限公司申请一项名为“基于ATE测试中ADC/DAC测试相关模拟源质量优化的电路设计方法”的专利，公开号CN 119761291 A，申请日期为2025年3月。