四创电子申请多波长双偏振地基微波辐射计的系统设计专利,提高测量的准确性 国家知识产权局信息显示,四创电子股份有限公司申请一项名为“一种多波长双偏振地基微波辐射计的系统设计方法”的专利,公开号CN119805617A,申请日期为2024年11月。 专利 偏振 波长 地基 偏振地基 2025-04-24 12:00 3