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联和存储科技申请SPI NAND FLASH存储芯片测试方法及设备专利，可有效测试芯片不同操作频率下性能

国家知识产权局信息显示，联和存储科技（江苏）有限公司申请一项名为“SPI NAND FLASH存储芯片的测试方法及测试设备”的专利，公开号CN119889409A，申请日期为2024年12月。