ICT半导体申请影响带电粒子束专利,提升带电粒子束设备性能 金融界 2025 年 5 月 14 日消息,国家知识产权局信息显示,ICT 半导体集成电路测试有限公司申请一项名为“影响带电粒子束的方法,多极装置,以及带电粒子束设备”的专利,公开号 CN119993811A,申请日期为 2022 年 2 月。 半导体 ict 粒子束 粒子束设备 ict半导体 2025-05-14 16:04 2