离子阱芯片中的试线是用于测试和调试的金属引脚，通常位于芯片的边缘或芯片内部的测试点上。试线可以通过测试仪器进行电气测试、信号采集等操作，以验证芯片的性能和可靠性，或者进行调试和故障排除等操作。在芯片设计中，试线的布局和设计非常重要，需要考虑到测试和调试的需要，

芯片 欧洲 离子阱 离子阱芯片 芯片中试线 2025-05-21 17:02  2