Ansys Zemax | 在 OpticStudio 中将干涉仪数据附加到光学表面 – 第二部分
表面的干涉仪数据包含不规则度的相关信息,包括旋转对称不规则性 (RSI)、用于确定中空间频率的斜率误差以及其他表面形状制造误差。这些制造误差取决于在球面或非球面上进行的抛光类型,可以是传统的沥青抛光、高速抛光以及磁流变抛光 (MRF)。由于很难使用 Zerni
表面的干涉仪数据包含不规则度的相关信息,包括旋转对称不规则性 (RSI)、用于确定中空间频率的斜率误差以及其他表面形状制造误差。这些制造误差取决于在球面或非球面上进行的抛光类型,可以是传统的沥青抛光、高速抛光以及磁流变抛光 (MRF)。由于很难使用 Zerni
表面的干涉仪数据包含不规则度的相关信息,包括旋转对称不规则性 (RSI)、用于确定中空间频率的斜率误差以及其他表面形状制造误差。这些制造误差取决于在球面或非球面上进行的抛光类型,可以是传统的沥青抛光、高速抛光以及磁流变抛光 (MRF)。由于很难使用 Zerni
激光干涉仪是以激光波长为测量基准的一种高精度测量。激光头是激光干涉仪的核心部分,其主要由激光器、光电二极管、滑动单元、反射镜等组成,其中激光器用于产生激光束,激光束具有良好的单色性和相干性。