摘要：国家知识产权局信息显示，上海梓一测控技术有限公司申请一项名为“一种平移式微型芯片常高温多sites测试设备”的专利，公开号CN119869976A，申请日期为2025年1月。

金融界2025年4月28日消息，国家知识产权局信息显示，上海梓一测控技术有限公司申请一项名为“一种平移式微型芯片常高温多sites测试设备”的专利，公开号CN119869976A，申请日期为2025年1月。

专利摘要显示，本发明涉及一种平移式微型芯片常高温多sites测试设备，涉及常高温分选机的领域，其包括框架，框架顶部一侧边分布有上下料梭车模块A和上下料梭车模块B，框架顶部另一相对侧边依次排列有朝向上下料梭车模块A和上下料梭车模块B的Tray上料模块、出空Tray模块、进空Tray模块以及自动分Bin模块，Tray上料模块远离出空Tray模块的一侧设有上料取放模块，上下料梭车模块A和上下料梭车模块B的上方设有测试模块。本发明采用高精度传动机构、独立的双测试梭车和独立的双测试系统，引入移动机构，并借助运动控制算法，有效提高取放精度，确保芯片在放入预定位模块时不会发生刮伤现象。

天眼查资料显示，上海梓一测控技术有限公司，成立于2012年，位于上海市，是一家以从事专业技术服务业为主的企业。企业注册资本1045.5万人民币。通过天眼查大数据分析，上海梓一测控技术有限公司参与招投标项目9次，财产线索方面有商标信息4条，专利信息40条，此外企业还拥有行政许可2个。

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