歌尔光学申请 ADC 采样专利,提高 ADC 采样精度

摘要:金融界 2024 年 12 月 19 日消息,国家知识产权局信息显示,歌尔光学科技有限公司申请一项名为“ADC 采样方法、装置、设备及存储介质”的专利,公开号 CN 119135175 A,申请日期为 2024 年 8 月。

金融界 2024 年 12 月 19 日消息,国家知识产权局信息显示,歌尔光学科技有限公司申请一项名为“ADC 采样方法、装置、设备及存储介质”的专利,公开号 CN 119135175 A,申请日期为 2024 年 8 月。

专利摘要显示,本申请公开了一种 ADC 采样方法、装置、设备及存储介质,涉及信号处理技术领域,包括:在采样周期内进行 ADC 采样时,获取采样电压数据;根据所述采样电压数据确定采样点之间的斜率变化数据;根据所述斜率变化数据对采样数据进行筛选,得到目标采样数据,实时计算连续采样点之间的斜率变化,从而根据斜率变化引入动态调整机制,对采样数据进行动态调整和筛选,提高 ADC 采样的精度,从而提高测量值的准确性。

来源:金融界

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