摘要：刚才测试了AI8051U的 QSPI访问外部RAM的功能，下面，重新测试一下QSPI访问外部FLASH的程序。通过测试这些下载的程序，为今后嵌入式设计积累下可以使用的程序资源。
一、前言
刚才测试了AI8051U的 QSPI访问外部RAM的功能，下面，重新测试一下QSPI访问外部FLASH的程序。通过测试这些下载的程序，为今后嵌入式设计积累下可以使用的程序资源。
二、电路设计
还是使用 AI8051U单片机测试串口FLASH，只是将原来的RAM 更换成 FLASH，管脚顺序是兼容的。设计电路板，适合一分钟制版，一分钟之后，得到了测试电路板，制作的非常完美。下面进行焊接测试。
三、焊接测试
焊接电路。其中包括有 W25Q128串行FLASH芯片。整个程序框架还是沿用刚才的测试程序。仍然，从 AI8051U 数据手册中，在QSPI一章中后面给出的样例程序下载链接。下载演示程序软件包中，包括有 QSPI 接口程序，以及 W25Q 串口FLASH的函数，其中的软件都编写好了。参照其中 Test 主文件的过程，调用响应的读写函数。
在程序中，根据串口接收到的字符命令，分别调用对 FLASH 芯片的擦除，写入 以及读出显示的功能。这样便可以验证对 W25Q FLASH操作是否正常。在主程序中，对 QSPI接口 以及 W25Q FLASH进行初始化，特别是将W25Q 置于 QSPI接口模式，下面就可以验证对 W25Q 的操作功能了。
四、测试结果
现在这些源程序别人已经编写测试好了。下面测试一下读写结果。可以看到，现在能够读出FLASH中的数据，这些是之前写入的递增数据。输入擦除命令，重新读取，可以看到此时读出的都是 0xff 数据。发送写入命令，然后读取，结果是写入的数据。
本文测试了 AI8051U对串行接口FLASH的操作，型号为 W25Q128，通过测试，验证了网络下载的程序的功能。
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AI8051使用QSPI访问外部RAM：23LC1024:
来源：TsinghuaZhuoqing
