蔡司光学ZVP功能，测量效率的新突破（内含案例分享）

摘要：在精密制造领域，测量精度与效率往往是企业竞争力的关键所在。随着科技的不断发展，传统测量方式已难以满足现代工业对高效、精准测量的迫切需求。为此，ZEISS公司推出了其CALYPSO新版本软件中的一大亮点功能——ZEISS VAST Probing光学ZVP（以下

在精密制造领域，测量精度与效率往往是企业竞争力的关键所在。随着科技的不断发展，传统测量方式已难以满足现代工业对高效、精准测量的迫切需求。为此，ZEISS公司推出了其CALYPSO新版本软件中的一大亮点功能——ZEISS VAST Probing光学ZVP（以下简称ZVP）。这一创新技术不仅显著提升了测量效率，更为企业带来了前所未有的测量体验。

▲ 注：ZVP功能仅限于ZEISS CALYPSO 2021或更新版本，适配VAST系列测头及光学影像测头。

经测试，在相同时间内，标准模式下接触式测头仅能测量6个点，而启用ZVP探测模式后，测量点数提高至9个，检测效率得到明显提升。

ZVP功能，作为ZEISS CALYPSO 2021或更新版本中的专属配置，专为适配VAST系列测头及光学影像测头而设计。其核心在于采用优化的数据采集算法，使得离散点的测量时间大幅缩短，效率提升可达30%~50%。这一变革性的提升，在实际测量过程中得到了充分验证。

以光学图像传感器ViScan Discovery.V12 standard 100和ViScan Discovery.V12 scout 160为例，借助ZVP功能，它们能够更快速地采集图像，从而显著节省测量时间。这对于需要频繁进行大量测量的企业来说，无疑是一个巨大的福音。

在实际应用中，ZVP功能的优势更是显而易见。以一家半导体企业的涂层喷淋花洒工件为例，该工件直径达332mm，上面密布着近2000个D0.3的小孔。这些小孔的直径与圆度必须精准测量，以确保涂层喷淋的均匀性，从而满足工艺要求。然而，传统的测量方式不仅耗时长，而且难以保证测量的准确性。而ZVP功能的出现，则完美解决了这一难题。

▲ 注：图为相似工件，非原始客户工件

对比试验

考虑到工件保密性，以下我们采用具有相似元素的工件进行代替实验，实验结果依然具有说服力。

测试工件：

带有多个呈一定规律排列的孔的PCB板。

测量需求：

测量每个孔的直径及圆度。

实验设计

在实验设计过程中，针对工件小孔数量众多易导致测量时间过长，尤其在大批量相同工件测量时严重影响效率的问题，我们深入探索如何有效减少测量时间、提升测量效率。

在使用 O - INSPECT 测量时，ZVP 功能提供了两个关键设置参数，其设置路径明确便捷：

程序元素编辑-CMM参数-探测参数(以下简称为探测参数)

程序元素编辑-照相机-常规设置-测量时间优化（以下简称为测量时间优化）

针对以上分析，我们设计了如下对照组实验，观察测量时间是否减少。

对照组一: 探测参数（未启用）+测量时间优化（未启用）

首先选取一个圆作为起始元素，设置好对应的测量策略；

按照一般的测量方法，程序里对应参数无设置，即探测参数和测量时间优化均不选。

示例中所测孔的数量为35*3=105个，测量视频如下,共计用时100s

对照组二: 探测参数（VAST探测模式）+测量时间优化（3-运行优化，减少显示，无默认报告）

首先选取一个圆作为起始元素，设置好对应的测量策略。

选择对应优化参数，探测参数选择VAST探测参数（即ZVP功能），测量时间优化选为 3-运行优化，减少显示，无默认报告。

示例中所测孔的数量为35*3=105个，测量视频如下，共计用时60s。

对照组三: 视图阵列测量+探测参数（VAST探测模式）+测量时间优化（3-运行优化，减少显示，无默认报告）

为圆1设置元素阵列，为35*3。

将阵列后的圆移动到CAD显示框的中间，示例中目前一个视场下可看到4*3个圆。

选中圆1后，右键-更新照相机测量位置X和Y（从当前相机位置），输入4/3。

同样的，运行参数选择为探测参数（VAST探测模式）+测量时间优化（3-运行优化，减少显示，无默认报告）。

测量时长为32s。

在一项对比试验中，研究人员采用具有相似元素的PCB板作为测试工件，分别测试了在不同设置参数下的测量效率。结果显示，在启用ZVP探测模式和测量时间优化参数后，测量效率得到了显著提升。与对照组一相比，对照组三（采用视图阵列测量+ZVP探测模式+测量时间优化）的测量效率提升了高达68%！这一结果充分证明了ZVP功能在提升测量效率方面的卓越表现。

值得一提的是，ZVP功能不仅适用于半导体行业，更在电子行业等具有大量相似元素的应用场景中展现出巨大的潜力。例如，在PCB板的测量中，ZVP功能能够大幅提升测量效率，从而帮助企业缩短生产周期，提高产品质量，增强市场竞争力。