亿芯微申请一种芯片电磁兼容性分析方法专利，改善无法全面捕捉电磁信号与芯片内部组件复杂交互导致的问题
国家知识产权局信息显示，亿芯微半导体科技（深圳）有限公司申请一项名为“一种芯片电磁兼容性分析方法、装置及设备”的专利，公开号CN119881506A，申请日期为2025年3月。
电磁信号
北京融为科技申请用于星载多通道电磁信号检前记录系统专利，实现检前设备轻量化、小型化
国家知识产权局信息显示，北京融为科技有限公司申请一项名为“用于星载多通道电磁信号检前记录系统”的专利，公开号 CN 119271576 A，申请日期为2024年12月。