苏州华太

苏州华太申请散射参数去嵌方法、装置及设备专利，有效提升整体散射参数去嵌效率和精度

国家知识产权局信息显示，苏州华太电子技术股份有限公司申请一项名为“散射参数去嵌方法、装置及设备”的专利，公开号CN 119355397 A，申请日期为2024年9月。