衬底晶面对MOCVD同质外延生长n-Ga₂O₃薄膜性质的影响研究
β-Ga2O3作为一种超宽禁带半导体材料,因优异的物理特性(如禁带宽度4.2~4.9 eV、高击穿电场强度8 MV/cm)在功率器件、日盲紫外探测等领域展现出巨大潜力。然而,高质量、大厚度、高迁移率的Ga2O3薄膜生长工艺仍面临挑战。金属有机化学气相沉积(MO
β-Ga2O3作为一种超宽禁带半导体材料,因优异的物理特性(如禁带宽度4.2~4.9 eV、高击穿电场强度8 MV/cm)在功率器件、日盲紫外探测等领域展现出巨大潜力。然而,高质量、大厚度、高迁移率的Ga2O3薄膜生长工艺仍面临挑战。金属有机化学气相沉积(MO
如何同质外延生长出具有原子级平整的氧化镓(Ga2O3)单晶薄膜,是制备高性能Ga2O3基功率电子器件或紫外光电器件的基础。由于通用衬底存在非理想整数指数表面,二维“台阶流”生长被广泛认为是实现上述高质量单晶薄膜的理想方法,并适用于大功率电子器件的制造。然而,受
西湖大学未来产业研究中心、西湖大学工学院孔玮研究员开发出一种新方法,首次实现了β-Ga₂O₃ (100)面无斜切衬底上的单晶同质外延,展示了在β-Ga₂O₃基功率器件中的巨大应用潜力。相关工作以“
西湖大学未来产业研究中心、西湖大学工学院孔玮研究员开发出一种新方法,首次实现了β-Ga₂O₃ (100)面无斜切衬底上的单晶同质外延,展示了在β-Ga₂O₃基功率器件中的巨大应用潜力。相关工作以“Single-Crystalline β-Ga₂O₃ Homoe