山东华芯申请分析 SSD 内因 NAND Flash 特性导致读出错误数高的专利，能识别出导致读出错误数高的关键因素 金融界 2025 年 4 月 23 日消息，国家知识产权局信息显示，山东华芯半导体有限公司申请一项名为“一种分析 SSD 内因 NAND Flash 特性导致的读出错误数高的方法、装置及介质”的专利，公开号 CN119851741A，申请日期为 2024 年 ssd nand flash 山东华芯 内因nand 2025-04-23 08:52 3
