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上海梓一测控申请平移式微型芯片常高温多sites测试设备专利，有效提高取放精度

国家知识产权局信息显示，上海梓一测控技术有限公司申请一项名为“一种平移式微型芯片常高温多sites测试设备”的专利，公开号CN119869976A，申请日期为2025年1月。