离子束

聚焦离子束扫描电子显微镜(FIB-SEM)的用途

FIB-SEM系统通过聚焦离子束(FIB)和扫描电子显微镜(SEM)两种互补技术,实现了材料的高精度成像与加工。FIB技术利用电透镜将液态金属离子源产生的离子束加速并聚焦,作用于样品表面,可实现纳米级的铣削、沉积、注入和成像操作。这种技术能够对样品进行精确的微

fib 电子显微镜 离子束 扫描电子显微镜 离子束扫描 2025-03-12 11:15  6

FIB系统的结构及其实际应用

双束聚焦离子束显微镜的关键在于其双束技术,离子束(FIB)用于样品的精确切割和蚀刻,而电子束(SEM)则捕捉样品的高分辨率图像。SEM垂直安装,FIB则以一定角度倾斜安装,两者之间形成52°的夹角,这种设计使得SEM能够提供高达100万倍的放大倍数,有效弥补了

fib 离子束 fib系统 2024-12-30 14:35  10