摘要：国家知识产权局信息显示，北京奥普托科微电子技术有限公司取得一项名为“晶圆缺陷光学检测设备”的专利，授权公告号CN223192850U，申请日期为2024年09月。

金融界2025年8月7日消息，国家知识产权局信息显示，北京奥普托科微电子技术有限公司取得一项名为“晶圆缺陷光学检测设备”的专利，授权公告号CN223192850U，申请日期为2024年09月。

专利摘要显示，本申请公开了一种晶圆缺陷光学检测设备，包括：激光光源，用于出射具有固定波长的初始光束，初始光束沿第一路径出射；压缩棱镜阵列，包括至少一个压缩棱镜对，包括一对相互呈面间夹角的第一折射面和第二折射面；承托装置，用于承托晶圆；接收装置；其中，初始光束以垂直角度抵达第一折射面，并以面间夹角为入射角抵达第二折射面后，折射并朝向第二折射面方向改变传播路径，由晶圆反射后，入射至接收装置。本申请实施例提供的晶圆缺陷光学检测设备，初始光束抵达第一折射面而不改变光斑直径的同时，抵达第二折射面，折射并朝向第二折射面方向改变传播路径，从而实现光斑直径单维度的压缩后，再入射至晶圆并反射进入接收装置，完成缺陷检测。

天眼查资料显示，北京奥普托科微电子技术有限公司，成立于2022年，位于北京市，是一家以从事科技推广和应用服务业为主的企业。企业注册资本17810万人民币。通过天眼查大数据分析，北京奥普托科微电子技术有限公司共对外投资了1家企业，参与招投标项目1次，财产线索方面有商标信息6条，专利信息41条，此外企业还拥有行政许可2个。

来源：金融界