摘要：9月10日，第二十六届中国国际光电博览会（CIOE 2025）在深圳揭幕。思仪科技携多款国产高端光电测试仪器及系统解决方案惊艳亮相，全方位展现了其在光电测试领域的技术硬实力与生态布局软实力。
9月10日，第二十六届中国国际光电博览会（CIOE 2025）在深圳揭幕。思仪科技携多款国产高端光电测试仪器及系统解决方案惊艳亮相，全方位展现了其在光电测试领域的技术硬实力与生态布局软实力。
01 聚焦行业热点
契合发展趋势
当前，6G通信、数据中心、AI等领域正以前所未有的速度蓬勃发展，高速光通信作为这些领域的关键支撑，也正朝着更高速率、更大带宽、更高集成度以及更高度自动化的方向演进。相干通信、量子通信、光芯片等作为高速光通信的底层支撑技术，同样取得了巨大进展。而高速光通信产业的发展高度依赖于测试技术的支撑，其中高端测试仪器作为保障系统性能、验证技术突破的关键工具，正发挥着不可替代的作用。
面对这一趋势，思仪科技精准把握行业动向，在本届光博会上展出的产品和解决方案与产业需求高度契合。公司重点推出的六大核心产品包括：光波元件分析仪、可调谐激光源、高精度光谱分析仪、波长扫描测试系统、激光噪声/线宽测试方案和OFDR光纤传感测试方案，全面覆盖光通信研发与生产测试关键环节。
值得一提的是，与往年相比，今年产品体系更加丰富、系列化更全面，在测试带宽、速度、波长精度和光谱分辨率等方面均有显著提升。
具体来看，光波元件分析仪作为全球领先的高端测试仪表，面向高速电光、光电及光光器件的调制特性测试，频率覆盖宽，集成电电、电光、光电及光光四种测试模式，可精确测量光电网络的幅/相频特性，广泛应用于各类器件的带宽、群时延等频响参数测试。
光波元件分析仪
与此同时，6362系列光谱分析仪测试范围从600nm–1700nm拓展至350nm–2500nm，在1000nm和1550nm处实现10pm高光谱分辨率，动态范围提升至80dB，波长精度优于±10pm，可对工业及医疗激光器、DWDM系统、EDFA等实现一键快速光谱测试与分析，为研发和生产提供高效精准的测试手段。
光谱分析仪
基于这些突破，思仪科技不仅聚焦行业痛点，深耕技术难题，更实现了高端仪表的自主可控，逐步打破国外垄断，为高速光通信发展提供符合产业化、自动化需求的高端测试仪器与解决方案。
02 助力高速光通信
前瞻布局未来
在光通信技术经历新一轮代际演进，传输速率主流标杆跃升至800G，1.6T技术商业化路径日益清晰的背景下，思仪科技在高速光通信领域展现出了强大的技术实力和创新能力。
在新型超高速光电子芯片测试方面，思仪科技推出的系列化高端国产产品为光电子芯片迭代提供有力支持。例如，6317系列可调谐激光源作为Littman外腔类型的高性能光源，具有皮米级波长定位精度，覆盖1240nm–1680nm波长范围，输出波长/功率重复性高、动态范围良好，可作为OFDR的理想光源，也适用于硅光芯片、滤波器等波长相关参数测试。
可调谐激光源
在波长扫描测试方面，波长扫描测试系统由思仪科技自主研发的可调谐激光源搭配高速光功率计、偏振控制器及定制版软件组成，可以快速完成光器件的IL和PDL测试，通过实时光功率参考，利用穆勒矩阵法实现更高精度的WDL和PDL测量。可用于波长选择开关WSS模块、波分复用DWDM元件、波导阵列光栅AWG元件、光放大器EDFA、DWDM系统、硅光耦合系统，以及其他通用的光无源器件（耦合器、分束器、隔离器、光开关等）光学测量。
波长扫描测试系统
此外，在激光器测试领域，激光噪声/线宽测试方案可测量激光频率噪声、强度噪声和线宽等参数，频率噪声测量达20MHz，强度噪声测量高达40GHz，广泛应用于激光芯片及激光器测试。
RIN噪声测试仪
值得关注的是，在OFDR测试方面，光频域反射计结合光频域分析与光外差检测技术，具备高精度与大动态范围优势，可以微米级分辨率探测光器件、光模块及硅光芯片的内部结构，单次扫描即可获取损耗曲线及各器件的插入损耗、回波损耗与位置信息，实现芯片级“可视化”检测。该技术还可拓展至分布式光纤传感，实现对应变和温度的高灵敏度解调。目前该类型光频域反射计已广泛应用于航空航天、舰船、车辆及数据中心的光链路故障诊断与定位，为光通信器件的研发与生产提供支持。
03 展望未来
迎接光电测试全新时代
展望未来，思仪科技认为，随着光电技术不断走向深度融合，光电测试技术也将重点聚焦于超高单波集成芯片测试、多维度参数复合测试（如超大带宽、宽波复用与偏振复用等），并朝着更高集成化、自动化方向持续演进。
为积极把握这一趋势，思仪科技已明确多项发展规划：公司将开发更大带宽的S参数测试分析仪，以支持超高速单波芯片的网络参数表征；推出更精准的扫谱光源，覆盖O、S、E、C、L乃至U波段全波段；不断提升光谱分析仪的性能，实现更高精度、更宽光谱与更快测试速度；增强全波段光波长扫描系统的多工位生产适配能力；进一步研发更高速、更高频、更大带宽的激光噪声与线宽测试方案；并持续拓展微米级光纤传感测试解决方案的创新与应用。
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