摘要：金融界 2024 年 12 月 25 日消息，国家知识产权局信息显示，至讯创新科技（无锡）有限公司申请一项名为“芯片工艺角差异消除电路、方法及 NAND 闪存芯片”的专利，公开号 CN 119171885 A，申请日期为 2024 年 11 月。

金融界 2024 年 12 月 25 日消息，国家知识产权局信息显示，至讯创新科技（无锡）有限公司申请一项名为“芯片工艺角差异消除电路、方法及 NAND 闪存芯片”的专利，公开号 CN 119171885 A，申请日期为 2024 年 11 月。

专利摘要显示，本发明公开了芯片工艺角差异消除电路、方法及 NAND 闪存芯片，涉及集成电路技术领域，包括输入信号放大模块、无损容值模拟模块、信号开关控制模块、等电势元件和时钟频率检测模块，所述输入信号放大模块放大输入端的电信号并对放大后的电信号进行传输，使被放大后的电信号被传输至分压元件上本发明能够模拟被测模块中电容上的无损耗电流，消除了被测模块中电容本身具有的绝缘电阻引起的漏电流对测试电路的不良影响，同时能够消除漏电流对计算结果精度的影响，并使 RC 振荡器能够工作在慢角条件下，有利于提高 PVT 检测的独立性与高阻容振荡器 PVT 测试的检测准确性度，满足电容 C 在慢角条件下的测试进程。

来源：金融界