球差电镜测试服务简介

360影视 动漫周边 2025-09-05 10:18 1

摘要:探索未知,始于对微观世界的清晰洞察。现在,您通往原子世界的“超级眼睛”已就位!目前,世界顶级的 Thermo Fisher Spectra 300 双球差校正透射电子显微镜已正式面向全国的高校、科研院所及高新技术企业开放预约测试服务!设备介绍名称型号:Ther

探索未知,始于对微观世界的清晰洞察。现在,您通往原子世界的“超级眼睛”已就位!

目前,世界顶级的 Thermo Fisher Spectra 300 双球差校正透射电子显微镜已正式面向全国的高校、科研院所及高新技术企业开放预约测试服务!


名称型号:

Thermo Fisher Spectra 300双球差校正透射电镜

性能参数:

1. 分辨率性能:

TEM信息分辨率:≤60pm@300KV

STEM分辨率:≤50pm@300kV

空间分辨率:≤1nm(纳米晶体取向分析)

2. 电子光学系统:

加速电压范围:60-300kV

电子枪:带有单色器的超稳定超高亮度肖特基场发射电子枪

束流/束斑尺寸:≥2nA@0.2nm;≥12.0nA@1nm

3. 探测器系统:

最大HAADF STEM接收角:200 mard

扫描透射探头:HAADF探头,轴向16分割STEM探测器

EDS系统:对称式四个电制冷能谱,有效探测器面积≥120mm²,能量分辨≤136eV(Mn-Ka)

4.元素范围:

常规可测11Na-92U,部分仪器可测到O元素(需备注)。

检测限:一般约200ppm,低于此值结果仅供参考。

功能与服务项目:

1. 基本功能:

TEM(透射电子显微镜)

STEM(扫描透射电子显微镜)

EDS(能谱分析)

SAED(选区电子衍射)

2. 高级分析功能:

旋进电子衍射控制器:最小束斑≤1nm,旋进角范围0-2.5°

纳米晶体取向和晶相分布分析系统:电子束最小扫描步长≤0.5nm

纳米晶体应变分析系统:晶体取向分辨率≤1nm,空间分辨率≤3nm

样品要求:

1. 块体用FIB制样,厚度30nm左右;粉末提供10mg左右;

2. 纳米颗粒或者纳米片建议用微栅或者超薄碳膜制样;

3. 含磁性元素的样品必须提供粉末用于验证磁性;

4. 可提供寄样,云视频,现场测试服务。

结果展示:

图1 钙钛矿异质结

图2 纳米催化材料

图3 FIB+球差电镜(ABF+HADDF+EDS mapping)磁性半导体多层膜领域

应用场景

1.原子尺度结构解析,直接观察晶体缺陷(位错、层错、晶界);

2.纳米材料表征,确定量子点、纳米线的原子排列与表面终止面;

3. 半导体与电子器件;

4.定位芯片中纳米级裂纹或金属迁移导致的短路路径;

5.催化机理研究。

来源:米格实验室

来源:芯片测试赵工

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